10.16257/j.cnki.1681-1070.2020.0911
一种提取多层印制电路微波过渡特性的方法
针对多层电路过渡结构的微波性能参数提取问题,提出了一种逐步增加过渡结构的设计方法.该方法建立了多个通道间插入损耗的数学关系,通过对插入损耗的测试值进行运算处理,得到各过渡结构的微波特性参数.最后用该方法提取了一种多层电路过渡结构的微波性能参数,包括垂直过渡损耗、水平过渡损耗、直角过渡损耗、单位长度传输线损耗.提取结果可为使用该叠层结构的微波电路设计提供参考.
微波技术、多层印制电路板、微波过渡结构、过渡参数提取
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TN402(微电子学、集成电路(IC))
2020-10-20(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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