基于探针连接器的弹性测试技术研究

摘要：

采用压接式探针连接器对BGA封装微模块进行高效率、无损伤测试会发生测试曲线畸变失真现象.仿真分析测试模具引入导致“微模块-测试模具-测试板”组成的测试系统性能变差的原因.详细分析了介电常数、限位间距、限位间隙等参数对系统射频传输性能的影响,发现介电常数和限位间隙的变化对系统性能的影响较大,限位间距变化时系统的性能几乎不变.

关键词：探针、弹性测试、射频

所属期刊栏目：20

分类号：TN305.94(半导体技术)

在线出版日期：2020-10-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：18-21