10.16257/j.cnki.1681-1070.2020.0206
基于自动测试系统实现系统级芯片异步信号测试
大部分的系统级芯片(SoC)具有异步信号,基于自动测试系统(ATE)很难实现稳定的测试.通过外挂Flash芯片对被测SoC器件进行功能配置,自动测试系统对相应的功能进行搜索匹配,可以在自动测试系统上对SoC的异步输出信号进行稳定的测试.
自动测试系统、异步信号、系统级芯片、搜索匹配
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TN307(半导体技术)
2020-04-21(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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