10.16257/j.cnki.1681-1070.2020.0103
集成电路工程化测试方法研究
现今集成电路测试需求不断增加,为保障批量工程化生产测试环节的顺利进行,提高测试机的测试效率,对目前批量测试过程中容易出现的OS和功能工程测试环节故障进行诊断分析,排除一些常见的故障,实现芯片的快速生产测试.
集成电路、测试、开短路分析、功能分析
20
TN407(微电子学、集成电路(IC))
2020-04-24(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
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10.16257/j.cnki.1681-1070.2020.0103
集成电路、测试、开短路分析、功能分析
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TN407(微电子学、集成电路(IC))
2020-04-24(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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