应用于抗辐照FPGA的多标准I/O电路设计

摘要：

针对工业控制、航空航天等多种复杂的电磁辐射环境中对大规模FPGA器件及高速数据传输的迫切需求,设计了一种可应用于抗辐照FPGA的多标准I/O电路.该I/O电路中输入/输出寄存器均采用三模冗余(TMR)技术进行了抗辐照加固,能够支持14种电平标准,实现宽电压范围调节.该抗辐照FPGA抗单粒子翻转(SEU)大于37 MeV· cm2/mg.仿真及测试结果表明,该I/O电路满足设计要求.

关键词：TMR、I/O、抗辐照、FPGA

所属期刊栏目：19

分类号：TN492(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2019-11-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：20-25