一种高效测试交流参数的方法研究

摘要：

随着科学技术的快速发展,集成电路都朝着高速、高精度方向发展,对保障电路质量的电路测试的速度和精度也提出了新的要求,尤其在交流参数测试方面要求也越来越高.为了实现比传统的测试方式更加快速准确的交流参数测试,利用V93000集成电路测试系统,通过对Smart Scale卡上pin脚通道的时间测试单元(TMU)进行编程控制,即可达到目标.

关键词：测试技术、测试机台、时间测试单元

所属期刊栏目：19

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2019-11-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：17-19