安捷伦矢量网络分析仪E5072A射频测控技术应用

摘要：

随着5G通信时代的来临,在半导体射频芯片测试中,越来越多新型号的射频芯片需进行高频率(GHz级别)射频测试,以前的低频(M-Hz级别)射频测试平台已不能满足需求,亟需设计新的测控平台.简单介绍安捷伦E5072A矢量网络分析仪、E5270B精密型Ⅳ分析仪以及N5181B射频模拟信号发生器,同时介绍射频测试主要参数S参数、P1dB和IP3.通过硬件集成与VB编程成功搭建新的高频射频测控平台,并分享关键技术与核心指令代码.经过大量的测试验收,新平台不仅满足测试需求,同时也为未来更高频率的芯片射频测控打下技术基础.

关键词：E5072A、S参数、P1dB、IP3

所属期刊栏目：19

分类号：TN304.07(半导体技术)

在线出版日期：2019-06-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：8-11