假冒翻新集成电路的危害与识别方法
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

假冒翻新集成电路的危害与识别方法

引用
由于进口集成电路停产及采购困难,假冒翻新集成电路流入了高可靠性应用领域,严重影响产品质量可靠性和安全性能.文章结合筛选和DPA过程发现的假冒翻新集成电路实例,介绍识别假冒翻新集成电路的方法.

进口集成电路、假冒伪劣、翻新、可靠性、质量控制

TN307(半导体技术)

2018-11-07(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

46-49

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

电子与封装

1681-1070

32-1709/TN

2018,(z1)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn