一种MCU可测性优化设计

摘要：

为了降低测试成本,提高测试效率,将测试资源划分技术和测试端口复用技术相结合,基于ATE外部测试和BIST内部测试的优点,进行可测性设计.基于ATE的外部测试方法,设计了数字逻辑SCAN链和模拟IP测试模式.基于BIST内部测试方法,设计了MBIST电路,对Memory进行测试.为更高效地下载程序和功能验证,设计了支持标准SPI协议的通用测试接口;同时设计了测试模式管理模块,对整个可测性设计进行优化,可实现多个IP同时测试,并在实际芯片中得到验证.

关键词：MCU、可测性设计、资源划分技术、MBIST

所属期刊栏目：18

分类号：TN402(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2018-09-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：28-32