FPGA测试压缩技术研究

摘要：

随着FPGA规模不断增大,配置码越来越大,配置时间也越来越长,因此降低测试时间、提高测试效率具有十分重要的意义.主要从位流压缩和向量加载角度出发,研究了基于多帧写FPGA位流压缩、基于ATE的X模式和Multiport方式的测试压缩等多种测试压缩方法.以Xilinx公司Virtex-5系列FPGA-XC5VLX155T为例进行了测试验证.测试结果证明,采用测试压缩方法可使单颗FPGA的测试时间至少节省25.5 s,这些方法可大大降低对测试系统向量空间的需求,缩短FPGA的测试配置时间、提高测试效率,同时对其他类型数字电路的测试也有借鉴作用.

关键词：FPGA、配置时间、压缩测试、ATE

所属期刊栏目：18

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2018-06-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：8-11