运放电路在测试系统中的应用

摘要：

硬件芯片的功能、可靠性和稳定性至关重要,使得硬件测试越来越受到重视.在测试过程中为提高测试的精度和稳定性,会在测试芯片外围电路的基础上根据不同芯片的测试难点增加测试辅助电路,运放电路是其中较为常见的测试辅助电路.根据各运放电路的特点与功能,分别描述和研究了在遇到测试难点时运算放大器、电压跟随器和电压比较器在测试系统中的应用,从而有效提高了测试精度.

关键词：硬件测试、运算放大器、电压跟随器、电压比较器

所属期刊栏目：17

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2018-01-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：18-22