一种FPGA芯片中DSP模块的内建自测试方法

摘要：

提出了一种针对Xilinx Virtex-4/5系列FPGA芯片中嵌入式数字信号处理器(DSP)的内置自检测试(BIST)和故障诊断方法.该方法可以对DSP电路中乘法器和加法器进行有效的测试,缩短测试时间,减少工作量.同时通过更改DSP的配置信息来实现全芯片DSP的功能测试,提高了DSP模块的测试故障覆盖率.

关键词：内置自检测、乘法器测试、加法器测试、DSP、FPGA、Virtex-4

所属期刊栏目：17

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2017-11-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：9-12