基于J750EX测试系统的大容量NOR型FLASH测试方法

摘要：

NOR型FLASH存储器因其技术显著的高可靠性、能长久存储代码数据的非易失性(Non-Volatile)特点,在关注可靠性胜过性价比的军工和航空航天领域应用十分广泛.但由于此类器件在线编程及擦除操作较繁琐,从而使得利用自动测试系统对其进行测试具有较高难度.因此,探索NOR型FLASH存储器的测试技术,并开发此类器件的测试平台具有十分重要的意义.首先以MICRON公司的PC28F00AM29EW为例,介绍了NOR型FLASH存储器的基本工作原理,接着详细阐述了一种采用J750EX测试系统的DSIO模块结合FLASH分块操作的测试方法,从而能够更简便、高效地对NOR型FLASH存储器的功能进行评价.

关键词：NOR型 FLASH、DSIO、J750EX

所属期刊栏目：17

分类号：TN307(半导体技术)

在线出版日期：2017-10-31（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：10-14