长寿命抗干扰测试针在SOT363半导体高频器件测量中的应用

摘要：

在半导体器件生产企业中,使用测试针接触器件的引脚进行电参数测量,必须考虑两个问题.一个问题是降低测试针与器件引脚间的接触电阻.在自动化生产线中,企业要想得到高精度的测量值,必须经常替换已磨损的测试针,才能获得更高的成品率.另一个问题是降低外部信噪对半导体高频器件(工作频率＞2 GHz) HFE参数测量的影响.外部信噪会使高频器件的HFE参数不稳定,造成成品率的降低.通过SOT363测试针设计实例,介绍了新型长寿命抗干扰测试针的设计方法.

关键词：长寿命抗干扰测试针、高频器件、成品率

所属期刊栏目：17

分类号：TN304.07(半导体技术)

在线出版日期：2017-08-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：8-10,20