球栅阵列可焊性测试
在武器装备系统中,可焊性测试是鉴定电子元器件引出端质量和共面工艺等指标的一项重要措施.尤其在装机前,因为可焊性的隐患可能带来无法估量的损失.在检测分析工作中,使用什么方法正确评估电子元器件的可焊性显得尤为重要.通过球栅阵列器件的可焊性测试方法的分析研究,对测试中遇到的问题进行归纳和总结,以具体的示例进行分析和验证,提出了BGA可焊性测试中可参考的标准、应注意的问题等,为同行业者提供指导和借鉴.
可焊性、BGA、有铅、无铅
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TN606(电子元件、组件)
2017-07-17(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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