多电源域集成电路静电放电试验方法研究
随着集成电路技术的发展,电路从原来的单一电源域向多电源域进行转移,而其中的静电放电(ESD)试验是考核集成电路性能的一项重要指标,如何有效选择合适的试验方法变得越来越重要.结合国内外相关静电放电试验标准,研究标准之间存在的相同和不同的地方.结合实际情况,探究多电源域集成电路静电放电试验方法的选择.
静电放电、试验方法、多电源域
17
TN406(微电子学、集成电路(IC))
2017-04-26(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
26-28