基于C8051的片上调试单元设计

摘要：

随着半导体工艺与集成电路技术的快速发展,微处理器的集成度越来越高,在设计中开发比较大的应用程序时,强劲的调试手段是非常重要的.当bug复杂到无法分析时,只能用调试来追踪它,集成片上调试功能更显得尤为重要.基于C8051 IP设计了一个片上调试单元,将调试功能集成到单片机内部.通过配置不同的操作指令,该片上调试单元可实现断点指令、地址断点、停止及单步执行程序、数据观察点、运行到光标处等调试功能.

关键词：集成电路、片上调试、C8051

所属期刊栏目：17

分类号：TN402(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2017-04-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：19-21,25