三维封装中的并行键合线信号仿真分析
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

三维封装中的并行键合线信号仿真分析

引用
当今便携式设备的速率可达数吉比特每秒,但是其通道的频宽限制其性能.在所有芯片与基板的传输结构中键合线是最常用的,但却渐渐成为了带宽主要的限制.基于一款高密度布线系统级封装的研发项目,使用全波电磁场仿真工具进行建模分析,研究了不同参数对键合传输线DDR单端信号与差分信号传输质量的影响.最终通过键合线设计的优化,仿真结果通过了眼图的验证.

键合线、系统级封装、DDR、单端信号、差分信号

17

TN403(微电子学、集成电路(IC))

2017-04-26(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共6页

13-18

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

电子与封装

1681-1070

32-1709/TN

17

2017,17(3)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn