基于ATE的集成电路交流参数测试方法
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

基于ATE的集成电路交流参数测试方法

引用
当前集成电路设计和制造方面的发展速度很快,集成电路规模和水平不断提高,也促进了相应的测试技术的发展.集成电路交流参数的准确性已经成为影响集成电路性能的重要因素.介绍了交流参数测试的基本概念和原理,简述了基于TR6836测试系统对交流参数测试的具体方法、流程以及测试程序开发等内容,并以74HC04为例进行了测试,对交流参数的两种测试方法——搜索法和功能验证法进行了对比和分析.

集成电路、交流参数、自动测试

17

TN407(微电子学、集成电路(IC))

2017-04-26(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

10-12,18

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

电子与封装

1681-1070

32-1709/TN

17

2017,17(3)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn