基于Virtex4FPGA的全覆盖二倍线内建自测试
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

基于Virtex4FPGA的全覆盖二倍线内建自测试

引用
随着集成电路技术的发展,高集成度和高复杂度的器件不断出现,大规模集成电路的测试技术成为重要的研究方向.自建内测试方法是一种有效的系统级大规模集成电路FPGA测试方法.提出了一种基于Xilinx公司Virtex-4 (V4)系列芯片全覆盖的FPGA二倍线内建自测试方法,该方法采用脚本生成Xilinx设计语言(XDL),对V4芯片二倍线进行全局布线,然后进行FPGA配置,施加测试向量,从而对固定故障或者桥接故障进行测试.同时给出了基于XC4VLX100芯片的实际测试结果,验证了该测试方法的正确性.

XDL、内建自测试、测试向量、全局布线、二倍线

17

TN407(微电子学、集成电路(IC))

江苏省自然基金青年基金BK20160202

2017-04-21(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共5页

19-23

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

电子与封装

1681-1070

32-1709/TN

17

2017,17(1)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn