基于ATE的电源芯片Multi-Site测试设计与实现

摘要：

介绍了电源芯片的多Site测试设计与实现.基于CTA8280测试系统,通过对芯片CP(晶圆测试)要求进行分析,设计了8 Site测试电路外围,能够实现对晶圆进行8 Die并行测试.测试结果显示,该方案能够有效提升该电源芯片的测试效率,降低测试成本.

关键词：CTA8280、CP测试、Multi-Site、测试效率

所属期刊栏目：16

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2017-01-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：14-17,26