元器件二次筛选过程中的质量控制

摘要：

元器件二次筛选的目的是在于通过对产品实施非破坏性筛选试验,剔除具有潜在缺陷的早期失效产品,为整机的可靠性提供重要保证.为了获得良好的筛选效果,需要选择有效的筛选项目和方法.电容器和分立器件由于结构材料特殊,应用广泛,也容易在二筛过程中造成误判或由于操作不当引入新的失效或隐患,二次筛选过程中的质量控制尤为重要.选择电容器和分立器件,从筛选中最为重要的测试和电老炼两个方面着手,结合静电防护,对二筛过程的质量控制进行阐述.

关键词：二次筛选、静电防护、测试、电老化

所属期刊栏目：16

分类号：TN306(半导体技术)

在线出版日期：2016-08-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：39-42