一种基于Scanchain的Block RAM的MBIST设计方法

摘要：

基于March C+算法,设计了一种基于Scan chain的Block RAM为测试对象的串/并行BIST电路.在电路内部自身生成测试向量,不需要外部施加激励,并依靠自身决定得到测试结果是否正确.该电路既可以有效对Block RAM进行准确校验和故障定位,又不会因BIST测试增加PAD的数量.最后,对设计方法结果进行了仿真验证.

关键词：MarchC+算法、BIST电路、故障定位

所属期刊栏目：16

分类号：TN402(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2016-06-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：21-23,28