基于V93000ATE的MTL生成功能码的方法

摘要：

随着信息科学和产业的发展,集成电路为人们广泛应用.在今天的超大规模集成电路特别是在系统芯片SOC设计中,将大量存储器嵌入在片中的设计方法已经非常普遍.存储器的测试是集成电路测试一个十分重要的内容.V93000集成电路测试系统是一款可扩展型平台,它集合了数字测试、模拟测试和射频测量等资源.可针对各种高集成度的电子产品组件进行晶圆测试(Wafer Sort)及终程测试(Final Test).就利用V93000测试系统(ATE)的MTL工具产生存储器功能测试码的方法进行阐述,分析了与传统生成功能码方式相比,MTL具备灵活、占内存小、实现方便等特点.

关键词：测试技术、ATE、MTL、功能码

所属期刊栏目：16

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2016-06-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：18-20,33