基于ATE的可编程逻辑器件测试方法

摘要：

集成电路发展模式已从软编程、硬编程到软硬双编程方向发展，可编程器件已成为时代主流，对可编程器件的测试需求越来越多。首先介绍了可编程器件的概念和分类，然后针对目前主流的自动测试设备（ATE）做了介绍，接着详细描述了各种可编程器件的测试方法。该方法具有较强的通用性，可广泛应用于各种PLD、PROM、CPLD、FPGA等可编程器件的测试，对于实现可编程器件的产业化测试具有一定意义。

关键词：可编程逻辑器件、ISP、ATE、测试

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2016-03-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：12-15