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10.3969/j.issn.1681-1070.2015.11.012

SRAM中器件参数的设计方法

引用
为了解决含有SRAM产品转线时器件参数匹配的问题,首先对晶圆制造厂提供的SPICE模型,使用BSIMPROPLUS软件提取出SRAM单元中器件的阈值、饱和电流、漏电等参数,然后使用提取出的器件参数计算出SRAM单元在不同工艺角的翻转电压、功耗、读写裕度,比较得到最优工艺角。以0.13μm技术节点[1]单端口SRAM和双端口SRAM为例,计算了SRAM单元在不同工艺角下的翻转电压、功耗、读写裕度,得出SNFP工艺角为最优工艺条件,对于1.2 V电源电压,驱动管、负载管、传输管的阈值为0.33 V时SRAM单元的功耗和读写裕度最优。

静态随机存储器、参数匹配、工艺角

TN405(微电子学、集成电路(IC))

2016-03-11(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共5页

43-47

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电子与封装

1681-1070

32-1709/TN

2015,(11)

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