SRAM型FPGA的CLB模块测试技术

摘要：

针对FPGA芯片中CLB模块的测试难点，主要介绍了对FPGA芯片进行内建自测试的一种测试方法。在CLB模块中采用内建自测试分别对CLB模块的三态缓冲器、触发器、分布式RAM、CLB内部进位链与门、锁存器、算数逻辑、多路选择器MUXF6、移位寄存器进行测试，从而达到了缩短测试时间、全覆盖测试的目的。

关键词：FPGA、CLB模块、BIST、全覆盖

分类号：TN307(半导体技术)

在线出版日期：2015-09-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：17-20