10.3969/j.issn.1681-1070.2015.06.009
MTM反熔丝单元的总剂量效应研究
对单个MTM(Metal-to-Metal)反熔丝单元的总剂量辐照效应进行了研究,模拟可编程器件实际应用环境,通过对不同尺寸、不同状态的MTM反熔丝单元在不同的偏置情况下进行总剂量辐照(总剂量达2 Mrad(Si)),得到MTM反熔丝单元关键参数随总剂量的变化情况。通过实验及数据分析,最终得到结论:MTM反熔丝单元不会因总剂量辐照而发生状态翻转。
MTM、反熔丝、总剂量
TN306(半导体技术)
2015-07-13(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共5页
35-38,48