10.3969/j.issn.1681-1070.2015.03.009
MTM反熔丝单元编程特性研究
主要研究了编程参数对MTM反熔丝单元编程特性的影响,包括编程电压、编程电流、编程次数等。结果表明在满足最低编程电压条件下,编程电压的增大对反熔丝编程电阻无显著影响。编程电流对编程电阻的影响较大,编程电流越大,反熔丝编程电阻越小。编程次数的增多可减小编程电阻,但离散性增大。
MTM反熔丝单元、编程电阻、编程电压、编程次数
TN305(半导体技术)
2015-05-04(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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35-37,48