10.3969/j.issn.1681-1070.2015.03.004
抗辐照标准单元库验证方法研究
对抗辐照单元库的验证方法进行研究。以0.5μm抗辐照单元库为例,研究抗辐射单元库的验证方法。设计了一款验证电路,对单元库进行验证,单元库功能和性能满足设计要求,抗辐射能力达到500 krad(Si)。
抗辐照标准单元、SOI、验证电路
TN402(微电子学、集成电路(IC))
2015-05-04(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
14-17
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10.3969/j.issn.1681-1070.2015.03.004
抗辐照标准单元、SOI、验证电路
TN402(微电子学、集成电路(IC))
2015-05-04(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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