一种高效率MCU芯片Multi-Sites测试技术

摘要：

介绍了使用Multi-Sites工程测试技术提高MCU芯片测试效率的方案。针对MCU芯片Multi-Sites测试难点，阐述了在MCU芯片Multi-Sites测试中电性能测试、功能测试的影响因素和解决方案，并对MCU芯片Multi-Sites测试过程中经常遇到的干扰因素进行分析，保证MCU芯片Multi-Sites测试获得稳定可靠的性能参数，有效提高测试效率。

关键词：MCU、Multi-Sites、测试效率

分类号：TN492(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2014-12-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：13-15