10.3969/j.issn.1681-1070.2014.10.002
基于UltraFlex系统进行LVDS接口芯片的测试方法
高速接口通常采用差分信号实现,LVDS接口可以满足高速信号传输,对具备LVDS接口芯片的测试方法与单端信号的测试有较大差别。描述了如何使用UltraFlex测试系统进行LVDS接口芯片的测试方法,包括通道分配、测试接口板设计和相关测试设置等内容。此方案已经应用于800 Mbps多路LVDS输入和输出接口的测试。
LVDS、ATE、信号完整性、动态测试向量
TN407(微电子学、集成电路(IC))
2014-11-13(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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4-7,29