浅谈两台IC分选机并行测试方法

摘要：

随着半导体行业测试技术不断提高，IC分选机技术不断升级，昂贵的集成电路测试设备是导致集成电路测试成本偏高的主要因素。如何最有效地使用好现有设备，充分利用设备资源，降低测试成本，提高测试效率，是工程技术人员需要探索的问题。从如何实现两台IC分选机并行测试展开具体的说明，详细介绍两台IC分选机与测试系统并行测试的通信原理，以及实际工作中的一些注意事项，避免出现质量事故，并通过试验说明并行测试的优越性。

关键词：并行测试、乒乓测试、测试系统、IC分选机、通信信号

分类号：TN307(半导体技术)

在线出版日期：2014-10-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：13-16