10.3969/j.issn.1681-1070.2014.09.003
高精度ADC测试技术研究
随着高性能ADC器件的不断出现,传统的ADC器件测试评价方法已经越来越不适用于高性能ADC器件。为从工程上实现高性能ADC器件的测试评价,提供了一种高性能ADC器件关键参数评价的新算法,同时详细地分析新算法的原理并且论证了新算法的正确性。目前该算法已经大量地应用到高性能ADC器件的实际测试评价中去,解决了高性能ADC器件难以评价的问题。
高精度ADC、微分非线性、积分非线性
TN307(半导体技术)
2014-10-20(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共5页
9-12,16