基于J750EX测试系统的SDRAM测试技术研究

摘要：

SDRAM（Synchronous Dynamic Random Access Memory，同步动态随机存储器）以其卓越的性能、低廉的价格得到了广泛的应用，但由于此类器件具有容量较大（通常为百兆级及以上）、对其实施控制较复杂等特点，使得SDRAM的测试也存在较高难度，因此，探索SDRAM的测试技术，并创建该类器件的测试平台也具有十分重要的意义。首先介绍了SDRAM的基本工作原理，其次详细阐述了基于J750EX测试系统的测试技术研究，提出了采用J750EX系统的DSIO资源实现SDRAM地址累加生成的方法，大大减少了测试矢量长度，可以有效节省测试开发时间，降低测试成本。另外，针对SDRAM的关键时序参数，如tRCD（行选通周期）、CL（读取潜伏期）、tWR（写回时间）等，使用测试系统为器件施加适当的控制激励，完成SDRAM复杂的时序配合，从而达到器件性能的测试要求。

关键词：同步动态随机存储器、DSIO、J750EX

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2014-09-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：18-24,41