MCU芯片Multi-Sites测试中几个值得关注的问题

摘要：

介绍了MCU芯片Multi-Sites测试方法，针对MCU芯片Multi-Sites测试的难点，阐述了在MCU芯片Multi-Sites测试过程中经常影响测试系统和测试效率的问题。主要提出了MCU芯片Multi-Sites测试过程中的直流参数测试、功能测试的影响因素和解决方案，并对MCU芯片Multi-Sites测试过程中经常遇到的干扰因素进行分析，尽可能保证MCU芯片Multi-Sites测试过程中获得的各项性能参数稳定可靠。

关键词：MCU、Multi-Sites、直流参数测试、功能测试

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2014-07-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：12-14