一款数字信号处理器的失效分析研究

摘要：

集成电路在实际应用中，经常会出现工作异常甚至失效的情况。当电路发生失效时，需要采用各种手段尽快定位问题所在，在本地复现相关现象，明确问题原因，进而提出针对性的解决方案。介绍一款数字信号处理器电路的失效分析过程。包括问题的出现，现场确认，失效现象复现，借助Latch-up、EMMI设备分析问题，提出改版方案。

关键词：数字信号处理器、失效分析、闩锁、EMMI

分类号：TN306(半导体技术)

在线出版日期：2014-07-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：42-44,48