一种用perl编写FPGA内建测试向量的方法

摘要：

随着IC技术的发展，高集成度和高复杂度的器件不断出现，其相应的测试技术也成为了一个重要的研究方向。对资源丰富的FPGA芯片来说，编写合适的内建测试向量显得尤为重要。介绍了用perl语言编写基于XDL语言测试向量的方法。在对FPGA芯片进行测试设计时，由于软件本身的编辑和约束功能有局限性，其设计效率和便利性不足，并且在某些情况下不能达到设计者对芯片内部资源使用和连线通路的特殊设计要求，因此可使用该研究的XDL编辑方法对设计文件进行高效、高自由度的约束和编辑，从而达到较高的测试覆盖率和较好的测试效率。

关键词：测试向量、FPGA、perl、XDL

分类号：TN432(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2014-04-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：18-20,28