10.3969/j.issn.1681-1070.2014.01.012
MIPS_RAC终端测试于0.13μm逻辑平台的工艺优化
高清数字电视的HD-DVR机顶盒已经成为了全球发展的趋势,MIPS_RAC终端测试作为其中缓存的反应速度的主要芯片参数,其工艺窗口直接关系到机顶盒成品率的高低和稳定。文章研究了MIPS_RAC终端测试与器件速度之间的关系,并定义了MIPS_RAC在0.13μm的通用逻辑工艺平台上的工艺安全范围。
机顶盒、MIPS_RAC、器件
TN305(半导体技术)
2014-03-20(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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