研究波导检波装置的失效模式及改善措施

摘要：

报告了波导检波装置应用过程中主要存在的三种失效模式现状：常温下检波电压幅值发生跳变，在某频点跳变量达到120 mV；高低常三温下检波电压幅值变化率超过25%；在高低常三温下检波电压幅值不满足250 mV～900 mV幅值范围的要求。对这三种失效模式进行了研究，主要从检波二极管、检波盒体对检波性能的影响展开了具体的讨论。文中重点论述了检波二极管的功率容量饱和特性、检波二极管的温度特性，推导出检波电压幅值温度变化率公式；同时还分析了高、低温情况下由于检波腔体尺寸的微小变化使得谐振状态改变从而对产品高、低温下检波电压幅值变化的影响。最后，依据失效模式的机理分析给出了产品的改善措施。

关键词：检波装置、检波电压幅值、幅值变化率

分类号：TN305.7(半导体技术)

在线出版日期：2013-12-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：23-25,29