基于Ultra-FLEX测试系统的集成电路测试开发

摘要：

在半导体技术高速发展的今天，对集成电路的测试要求越来越高，测试开发的难度、复杂度都在增加，如何应对当前集成电路的测试需求，成为测试开发者需要考虑的问题。Ultra-FLEX测试系统是新一代的测试系统，用以应对当今的测试需求。文章介绍了Ultra-FLEX测试系统的硬件资源，列举了部分模块及其功能和参数；描述了一般集成电路测试开发的流程，并以数字集成电路为例介绍了相关测试内容；介绍了Ultra-FLEX测试系统的软件环境，列举了测试程序构成要素以及各自功能；介绍了Ultra-FLEX测试系统的程序调试环境，测试系统提供的调试工具以及调试方法。

关键词：Ultra-FLEX、集成电路、测试、测试系统

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2013-09-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：20-21,39