微波在片测试数据离散剔除算法研究

摘要：

针对微波在片测试项目多、参数复杂、数据处理灵活性大的特点,开发了工艺控制微波数据处理软件,但该软件存在离散数据剔除难的问题.文章讨论了如何对离散数据进行剔除的几种算法:模拟EXCEL表格画图法、一致性剔除离散算法、累积均方差剔除离散法、拟合正态分布曲线算法,最终选定拟合正态分布曲线算法作为剔除离散方法.将剔除离散数据功能完善到工艺控制微波数据处理软件,将使微波在片测试数据处理最终实现自动化.

关键词：在片测试、离散数据、剔除算法

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2012-12-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：20-23