基于片外信号源的SoC低成本测试解决方案

摘要：

随着SoC芯片集成度和复杂度的不断提高,其测试变得越来越复杂,测试成本也越来越高,如何降低过高的测试成本也逐渐成为研究的热点.卫星数字电视信道接收芯片作为机顶盒关键芯片之一,对低成本测试的要求也越来越迫切.文章针对某卫星数字电视信道接收芯片,通过分析该芯片的内部模块功能,采用片外信号源方法设计该芯片的低成本测试方案,并在自动测试系统T6575上实现.实际生产结果表明,该方法能极大降低芯片测试成本.

关键词：片上系统、片外信号源、低成本、自动测试系统

分类号：TP302.8(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2012-12-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：17-19