10.3969/j.issn.1681-1070.2012.10.001
真空炉金锡封焊
文章在介绍半导体金锡焊料封装工艺的基础上,重点对金锡焊料、炉温曲线设置等工艺技术问题进行了深入研究.基于大量的金锡焊料真空焊接封装实验及理论分析,研究了器件气密封装技术.讨论了封焊夹具、管帽镀层、合金状态、封接面表面、压块、焊料厚度以及加热程序对焊接质量的影响.密封后的产品在经过环境试验和机械试验考核后,封装气密性能很好地满足要求.并且结合应用背景证明了所采用的合金及封装工艺的可行性.
金锡焊料、真空、炉温曲线
TN305.94(半导体技术)
2012-11-19(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共2页
1-2