10.3969/j.issn.1681-1070.2012.05.003
内嵌于DDS的DAC线性参数测试
文章重点介绍了内嵌于DDS的DAC线性参数的一种测试方法。该测试方法的优点是开发周期短、测试成本低、可在多种测试机台上实现。解决了DDS中不能对DAC输入端直接操作的难题,同时不影响其他参数的测试。文章基于LabView软件,使用示波器或NI板卡,结合其他仪器对DAC的静态参数进行了研究并试验。其中示波器或NI板卡完成信号采集,其他仪器完成芯片配置,微机对整个流程进行控制并将测试结果按序输出,实现测试自动化。通过试验证明该方法可行,测试效率高,测试结果达标并稳定。
直接数字频率合成、数模转换器、静态参数
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TN407(微电子学、集成电路(IC))
2012-08-02(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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