10.3969/j.issn.1681-1070.2012.05.001
SOT23系列产品MSL1封装工艺研究
近年来集成电路封装材料、设备及工艺技术研究进展迅速,尤其是封装材料及封装设备更是日趋完善。材料性能和设备能力已不再是SOT23系列产品达到MSL1要求的主要/关键限制因素。文章主要研究影响SOT23系列产品达到MSL1要求的工艺过程因素,寻求SOT23系列产品达到MSL1要求的工艺过程控制解决方案。通过对工艺过程中关键工序加工方法、工艺流程及工艺条件的试验,最终确定了可以稳定通过MSL1的方案,其主要做法是:在粘片后采用分段烘烤,在压焊和塑封前加等离子清洗以及对工序间间隔时间进行控制。
MSL1、等离子清洗、SOT23、爆米花现象、粘片、烘烤
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TN305.94(半导体技术)
2012-08-02(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共5页
1-4,10