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10.3969/j.issn.1681-1070.2012.05.001

SOT23系列产品MSL1封装工艺研究

引用
近年来集成电路封装材料、设备及工艺技术研究进展迅速,尤其是封装材料及封装设备更是日趋完善。材料性能和设备能力已不再是SOT23系列产品达到MSL1要求的主要/关键限制因素。文章主要研究影响SOT23系列产品达到MSL1要求的工艺过程因素,寻求SOT23系列产品达到MSL1要求的工艺过程控制解决方案。通过对工艺过程中关键工序加工方法、工艺流程及工艺条件的试验,最终确定了可以稳定通过MSL1的方案,其主要做法是:在粘片后采用分段烘烤,在压焊和塑封前加等离子清洗以及对工序间间隔时间进行控制。

MSL1、等离子清洗、SOT23、爆米花现象、粘片、烘烤

12

TN305.94(半导体技术)

2012-08-02(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共5页

1-4,10

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1681-1070

32-1709/TN

12

2012,12(5)

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