10.3969/j.issn.1681-1070.2011.06.007
后段工艺干法去除光刻胶研究
干法去胶是用等离子体将光刻胶剥除,相对于湿法去胶,干法去胶的效果更好、速度更快.在现代集成电路制造中,干法去胶工艺加氟可有效地提高去除光刻胶的能力,特别是在离子注入之后的去胶工艺,含氟气体产生的氟离子可以防止光刻胶硬化.但在后段干法去胶工艺中,由于含氟气体的引入,会产生一系列的问题.因此,文中提出了对去胶气体组合配比进行改良,大量氧气加少量氮气的气体组合可以得到稳定的灰化率,且能减少机器零部件损耗并解决缺陷问题.提高晶圆反应温度可以大幅度提高灰化率,从而提高去胶设备的产能,降低工艺成本.
光刻胶、去胶、灰化、灰化率
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TN305.7(半导体技术)
2011-12-12(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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