SOC中的MBIST设计

摘要：

随着超大规模集成电路的发展,设计的集成度越来越高,基于IP的SOC设计正在成为IC设计的主流.为了确保SOC的功能正确,可测性设计(Design for Test,简称DFT)显得尤为关键.DFT设计包括扫描设计、JTAG设计和BIST设计.另外,当前SOC芯片中集成了大量的存储器,为了确保存储器没有故障,基于存储器的内建自测试显得很有必要.文章主要阐述如何用ARM JTAG来控制MBIST,这样既能节约硬件开销又能达到DFT设计的目的.

关键词：SOC、JTAG、内建自测试

所属期刊栏目：11

分类号：TN402(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2011-04-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：26-28,36