10.3969/j.issn.1681-1070.2010.10.004
基于FPGA的数字IC交流参数测试系统研究
大规模集成电路的应用促进了国民经济的发展,同时带动了各类集成电路自动测试系统的发展,特别是高速器件的测试要求交流参数测试稳定性好,分辨率高.基于这一要求,介绍了数字集成电路交流参数测试系统的基本构成,并且介绍了数字集成电路交流参数测试的基本内容和测量方法,讨论了内插技术在时间测量上的应用和FPGA中专用时间进位链构建延迟线的基本方法,研究了该技术在数字集成电路交流参数测试仪上的应用,最后应用软件QuartusⅡ9.0验证了延迟线实现方法,并且给出了仿真波形和测试结果.
延迟线、交流参数、数字集成电路、测试系统
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TM935
2011-01-27(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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