基于蒙特卡罗的电子产品可靠性分析

摘要：

由于产品技术性能和结构要求等方面的提高,可靠性问题愈显突出,文章对电子元器件的可靠性进行了分析.寿命试验是可靠性试验中最重要最基本的项目之一,它是将产品放在特定的试验条件下考察其失效(损坏)随时间变化规律,寿命测试分析方法采用威布尔型分析方法,根据极大似然估计的不变原则,统计出元件的平均寿命的极大似然估计,另外采用指数分布,属于伽玛分布和威布尔分布的特殊情况,统计产品的偶然失效.实验仿真给出了数据,其目的在于提高电子产品的可靠性.

关键词：元器件、可靠性、理论分析

所属期刊栏目：10

分类号：TH132.15

资助基金：河南省软科学研究项目电子产品硬件研发工程管理策略研究092400450121

在线出版日期：2010-08-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：33-35